Atıf İçin Kopyala
Ozcelep Y., Kuntman A.
MICROELECTRONICS INTERNATIONAL, cilt.29, sa.3, ss.141-144, 2012 (SCI-Expanded)
-
Yayın Türü:
Makale / Tam Makale
-
Cilt numarası:
29
Sayı:
3
-
Basım Tarihi:
2012
-
Doi Numarası:
10.1108/13565361211252890
-
Dergi Adı:
MICROELECTRONICS INTERNATIONAL
-
Derginin Tarandığı İndeksler:
Science Citation Index Expanded (SCI-EXPANDED), Scopus
-
Sayfa Sayıları:
ss.141-144
-
İstanbul Üniversitesi Adresli:
Evet
Özet
Purpose - The purpose of this paper is to propose a time-dependent mobility degradation model which is independent from the process or operating conditions.