Statistical investigation of hot-carrier degradation and lifetime prediction of PMOS transistors

KAÇAR F., KUNTMAN A., Kuntman H.

International Conference on Electrical and Electronics, Türkiye, ss.76-80

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.76-80
  • İstanbul Üniversitesi Adresli: Evet